日本进口小坂KOSAKA LAB EF650粗糙度轮廓仪一体机

日本进口小坂KOSAKA LAB EF650加粗糙度模组

Surfcorder EF650轮廓形状测定机加上粗糙度模组，可进行高精度，高水平分析和多功能粗糙度及轮廓测量。检出器更换操作简单，显示一目了然。

特点：

*粗糙度配备有符合最新ISO,DIN,ANSI,JIS标准的五十多种评价参数。

*高精度表面粗糙度轮廓测定机，一机两用，可进行表面粗糙度和轮廓形状测量。

*通过简单的一次性操作，可更换形状、轮廓、测定装置与表面粗糙度测量装置，并不必对电缆重新布线。

*轮廓传感器为宽范围，高分辨率的检测器，提供了在同类产品中更优越的高精度测量。

*轮廓传感器可以前、后双向测量并进行图型拼接解析，可在不更换测针或更改工件角度的情况下对于各种复杂位置进行测量。

*配有易于操作的操作杆，选定需要操作的轴，即可实现任何的移动。

*具有独立明显的紧急停止按钮，对于传感器及设备的保护更周全。

*遥控装置上具有传感器X轴及Z轴座标位置指标屏幕（与软件画面同步），更便于测量操作。

*独特的真直度保证。

*配有全息光栅尺，可提高宽/窄范围测量精度和Z轴的分辨率，增加更加稳定的安全系数。

规格：

小坂KOSAKA粗糙度仪测定

测定参数：多达五十多种，见产品目录。

放大倍率：纵50-500000，横1-5000。

测定范围：纵1200um,横100mm。

记录项目：测定值，测定条件，日期时间，输入资料（各种文字及图形资料）。

评价长度：0.25,0.8,2.5,8,25,80mm/任意值（0.2mm以上）

 /λc x1，x2，x3，x4，x5。

驱动速度：0.05，0.1，0.2，0.5，1，2 mm/s，高速移動，10mm/s及手动。

切断值（cut-off）:

粗度：λc 0.008,0.025，0.08，0.25，0.8，2.5，8 mm，R+W(JIS82无CUT-OFF)。

波纹度：fl 0.8,2.5,8,25mm,fh 0.08,0.25,0.8,2.5mm。

滤波方式：高斯（Gauss），2CR，特殊高斯。

资料点/分解能：MAX32000点/16位元。

自动水平：最小二乘法，二点法，R曲面补正，二次曲线补正 。

辅助功能：最自由排列组合记录，记录图刻划，平均处理，统计处理，中途终止，测定再演算，检出器登记，注解记录，自动感度校正，mm/inch单位切换，自动测定，部分处理，图形放大缩小 复数段差解析，螺距测定。

检出器上下动作：检出器上下范围400mm。

    自动停止精度±0.2um/100mm。（靴片使用时）

X轴真直度精度：0.2um/100mm。

检出器：触针R2um钻石头，测定力0.7mN。

小坂KOSAKA轮廓仪测定

解析项目：

    排列：原点移动，回转，反转，移动。

    要素解析：点，线，圆，山，谷，交点，中点，接点，反转。

    刻划量：坐标差，距离，夹角。

放大倍率：纵横1-200倍。

测定范围：纵60mm，横100mm。

综合精度：Z：±0.25% / 全范围，X： [±(1 + 0.02L ) um]

驱动速度：0.02，0.05,0.1,0.2,0.5,1,2mm/s。高速移动2,10mm/s及手动。

资料数：MAX300000点。

补助机能：自由排列组合记录，记录图刻划，巨集功能，图形放大缩小，数位圆弧补偿，过负荷防止，跳动上下，正反两方向测定 X输送范围机能，数据输出，形状、解析数据共CSV形式文件。

真直度精度：1um/100mm。

检出器上下动作范围：200mm。

检出器：R25um,10-30mN

追随角度：爬升77度，下坡87度。

共同规格：

测定台：(含支柱Column)：测定台W600 x D315 mm，承载重量：120kg，花岗岩材质。

倾斜调整台：承载范围 160 x 50 mm，V 沟槽(测定方向)。

            水平傾斜：±3°

            垂直傾斜：±3°

            Y方向移動量：±3 mm。