晶体管直流参数测试系统STD2000 |
价格:259000 元(人民币) | 产地:陕西 | |
最少起订量:1套 | 发货地:西安 | |
上架时间:2024-03-14 10:46:34 | 浏览量:53 | |
陕西天士立科技有限公司 | ||
经营模式:生产加工 | 公司类型: | |
所属行业:电子测量仪器 | 主要客户: | |
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晶体管直流参数测试系统STD2000
陕西天士立科技有限公司 专注半导体检测·电学检测·可靠性检测·老化实验
晶体管直流参数测试系统STD2000 基础信息 测试分析:功率器件研发设计阶段的初始测试 失效分析:失效器件测试,失效机理,设计方案改善 选型配对:器件焊接PCB之前测试,按器件一致性分类配对 来料检验:质量部对入厂器件进行抽检/全检,把控良品率 量产测试:连接机械手、扫码枪、分选机等进行量产测试
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晶体管直流参数测试系统STD2000 产品特点 三代半:优秀的性能应对第三代半导体及传统器件,Si,sic,GaN器件 测试品类:覆盖25类常见的电子元器件及IC类,且支持定制扩展 功能丰富:轻松表征元器件“静态特性”“IV曲线”“Cxss”“CV” 分析筛选:功能全面,配置丰富,胜任实验室场景中各类电参数表征 量产测试:1h高达7K~12K的测试效率,可连接“分选机”“编带 机”Prober接口、16Bin。 一键加热:一键脉冲自动加热至+130°C,耗时<1s; 高压源:1400V(选配2KV) 高流源:40A(选配100A,200A,500A) 驱动电压:20V/10uA~100mA(选配+40V/10uA~100mA) 漏电测量:1nA漏电持续稳定测量,表现出优秀的一致性和稳定性,更有1.5pA微电流测量选件可供选择。 高精度:16位ADC/DAC,0.1%精度,1M/S采样速率. 程控软件:基于LabVIEW平台开发的填充式菜单软件界面: 夹具工装:适配各类封装形式的器件,自动识别器件极性NPN/PNP. 校准:系统自带校准软件,也可通过RS232接口连接数字表进行校验
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晶体管直流参数测试系统STD2000 测试品类 01.Diode/二极管(稳压、瞬态、三端肖特基、TVS、整流桥、三相整流桥) 02.BJT/三极管 03.Mosfet&JFET/场效应管 04.SCR/可控硅(单向/双向) 05.IGBT/绝缘栅双极大功率晶体管 06.OC/光耦 07.Relay/继电器 08.Darlingtontube/达林顿阵列 09.Currentsensor/电流传感器 10.基准IC(TL431) 11.电压复位IC 12.稳压器(三端/四端) 13.三端开关功率驱动器 14.七端半桥驱动器 15.高边功率开关 16.电压保护器(单组/双组) 17.开关稳压集成器 18.压敏电阻 19.电压监控器
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晶体管直流参数测试系统STD2000 测试参数 漏电参数:IR、ICBO、LCEO/S/X、IDSS/X、IDOFF、IDRM、IRRM、ICOFF、IDGO、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、IGSSR、IGSS、IGKO、IR(OPTO) 击穿参数:BVCEOBVCES(300μSPulseabove10mA)BVDSS、VD、BVCBO、VDRM、VRRM、VBB、BVR、VD+、VD-、BVDGO、BVZ、BVEBO、BVGSS、BVGKO 导通参数:VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VT、VT+、VT-、VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)VGSTH、VTM、VGETH、VSD、IDON、VSAT、IDON、VO(Regulator)Notch=IGT1、IGT4、ICON、VGEON、、IIN(Regulator) 关断参数:VGSOFF 触发参数:IGT、VGT 保持参数:IH、IH+、IH- 锁定参数:IL、IL+、IL- 增益参数:hFE、CTR、gFS 间接参数:IL 混合参数:RDSON、gFS、Input@Output/Regulation
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晶体管直流参数测试系统STD2000 性能指标
晶体管直流参数测试系统STD2000
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