可控硅门极特性测试仪SCRD12V |
价格:29000 元(人民币) | 产地:陕西 | |
最少起订量:1套 | 发货地:西安市 | |
上架时间:2024-03-18 11:22:40 | 浏览量:72 | |
陕西天士立科技有限公司 | ||
经营模式:生产加工 | 公司类型: | |
所属行业:电子测量仪器 | 主要客户: | |
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可控硅门极特性测试仪SCRD12V
陕西天士立科技有限公司 专注半导体检测·电学检测·可靠性检测·老化实验
可控硅门极特性测试仪SCRD12V 基础信息 测试对象:晶闸管及双向晶闸管 测试参数:触发电流IGT 触发电压VGT 维持电流IH 擎住电流IL 测试标准:《反向阻断三极晶闸管测试方法》(JB/T7626-2013) 操控方式:单片机程控,触摸屏设置,测试结果屏显,可导入U盘 产品结构:桌面式单机仪器,程控操作,自动化高等优点
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可控硅门极特性测试仪SCRD12V 性能指标
门极触发电压/门极触发电流测试单元 阳极电压:12V 阳极串联电阻:62 门极触发电压:0.30V~4.50V@0.01V@3%0.01V 门极触发电流:5mA~450mA@1mA@3%士1mA 测试频率:单次 维持电流测试单元 阳极电压:12V 预导通电流:0~20A、20~25A、30~35A、>40A 维持电流:5mA~450mA@1mA@5%士1mA 输出波形:正弦衰减波 测试频率:单次 擎柱电流测试单元 阳极电压:12V; 擎住电流:10mA~1999mA@1mA@士5%士2mA 测试频率:单次 人机界面陕西天士立科技有限公司 专注半导体检测·电学检测·可靠性检测·老化实验
可控硅门极特性测试仪SCRD12V 工作原理
可控硅门极特性测试仪SCRD12V 陕西天士立科技有限公司 专注半导体检测·电学检测·可靠性检测·老化实验
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